中科院与是德科技有限公司共建110GHz晶圆片上测试系统
日期：2015.01.01 阅读数：3
【类型】期刊
【作者】（中科院）
【作者单位】中科院
【刊名】军民两用技术与产品
【关键词】 Hz；测试系统；芯片测试；国内科研院所；特性曲线；加工技术；模块化仪器；技术参数；电子研究所；自动测量
【ISSN号】1009-8119
【页码】22
【年份】2015
【期号】第7期
【摘要】
【全文】 全文