中科院成功实现对单个自旋态的纳米量级空间分辨率的测量与操控
日期：2015.01.01 阅读数：6
【类型】期刊
【作者】
【刊名】中国粉体工业
【关键词】 自旋态；空间分辨率；成像精度；量子信息；物理量测量；超分辨；中国科大；测量技术；解微；孙方
【页码】48
【年份】2015
【期号】第1期
【摘要】
【全文】 全文